DDR系列测试
覆盖DDR3/DDR4/DDR5/LPDDR4/LPDDR5/LPDDR5X全系列存储测试
佑存测试提供DDR全系列存储芯片测试能力，覆盖DDR3、DDR4、DDR5、LPDDR4、LPDDR5、LPDDR5X
DDR测试DDR3测试DDR4测试DDR5测试LPDDR5测试内存测试
覆盖产品
DDR3
传统DRAM产品，广泛应用于工业与消费电子
DDR4
主流DRAM产品，服务器与PC市场主力
DDR5
新一代DRAM，更高带宽与能效
LPDDR4
低功耗移动DRAM，智能手机与平板
LPDDR5
新一代低功耗DRAM，5G终端与AI应用
LPDDR5X
增强版低功耗DRAM，AI与高性能移动场景
测试层级
| 测试层级 | 测试内容 | 测试目的 |
|---|---|---|
| CP Test | 晶圆级电性参数与功能测试 | 早期筛选不良Die |
| FT Test | 成品功能、性能与可靠性验证 | 确保出厂品质 |
| Module Test | 系统级兼容性与老化测试 | 验证模组整体性能 |
核心测试项目
DC参数测试
功能测试
时序测试
信号完整性测试
温度拉偏测试
电压裕量测试
读写时序裕量测试
刷新特性测试
DDR5/LPDDR5新增测试要点
- 更高频率下的信号完整性验证
- 电源管理单元（PMIC）功能测试
- 新型封装形式的测试适配
- CA训练与均衡功能验证
DDR3 平台兼容性验证
结合目标板卡、固件与存储颗粒组合，验证基础读写、电气裕量与系统运行稳定性。以下为当前已整理的两套平台方案。
RV1106DDR3-1600
RV1106 平台 DDR3 兼容性测试方案
面向安防与边缘视觉应用，围绕 RV1106 平台 DDR3-1600 配置开展基础读写、动态压力、MDCCT 分析及系统验证。
Hi3751DDR3-1866
Hi3751V570/V352 平台 DDR3 兼容性测试方案
面向智能电视平台，结合 DDR Training、基础读写、压力测试与 MDCCT 分析，验证系统启动与多媒体运行稳定性。
测试交付物
单颗报告
测试项目、结果、错误分析与分级结论
批次报告
良率分析、缺陷分布、性能分布与 SPC 图表
兼容性评估
目标平台适配结论、异常说明与优化建议
原始记录
按项目约定提供测试日志、初始化参数及环境曲线