关于佑存测试
佑存测试技术（深圳）有限公司是一家专注于存储芯片测试的企业，总部位于深圳。 公司自主研发"SoC+核心板+设备+算法"四位一体测试方案，结合MDCCT多重动态交错比对技术， 为客户提供从晶圆级测试到模组成品测试的一站式全链路测试服务。
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一站式全链路测试服务
从晶圆到模组，全流程覆盖，客户无需对接多家供应商
1
晶圆级测试
CP Test
在晶圆阶段识别不良Die，降低后续封装成本
2
芯片成品测试
FT
模拟真实工况，验证芯片功能与性能
3
模组测试
Module Test
系统级验证，兼容性与老化测试
1
动态压力环境控制
通过DVS动态电压调节与精确温度控制，构建多维度测试压力环境
2
芯片内交错比对
Intra-Die Cross-Reference，对芯片内部数据进行交错比对分析
3
跨芯片差异化分析
Inter-Die Differentiation，实现跨芯片的差异化质量评估
四位一体技术架构
SoC + 核心板 + 设备 + 算法，构建完整自研技术体系
测试专用SoC
自主研发SoC芯片，提供核心算力支撑
核心板方案
高速信号处理与数据交换方案
自动化设备
支持大规模并行测试的自动化设备
专业算法
针对存储芯片优化的测试算法
测试服务能力
覆盖全链路测试环节，满足从试产到量产的需求
1
全链路测试
覆盖晶圆级、芯片成品与系统级验证
2
动态压力验证
结合电压、温度变化检查器件稳定性
3
批次数据分析
结合芯片内与跨芯片比对评估异常
4
测试记录追溯
关联测试条件、执行结果与评估报告
行业解决方案
针对不同行业客户提供定制化测试方案
质量体系与MES追溯
适用或参考JEDEC、AEC-Q100、ISO 26262等行业测试标准与规范， 结合MES全流程追溯系统，实现从接单到出货的全数据记录与质量管控。
- UID追溯码，实现单品全流程追溯
- 全数据记录，支持客户查询接口
- 恒温恒湿/ESD防护/电磁屏蔽环境管理
MES追溯流程
1
客户下单2
来料检验3
测试执行4
数据分析5
报告输出6
成品出货联系我们
期待与您合作
公司地址
深圳市宝安区润东晟工业区10栋5层