质量体系
构建全流程质量管控体系，确保测试质量与可靠性
佑存测试质量体系，覆盖国际标准、行业规范和企业内控三个层级
质量体系JEDECMES追溯存储芯片测试标准
质量标准体系
国际标准层
- JEDEC存储器测试标准
- JESD21-C、JESD218、JESD219
- AEC-Q100汽车电子可靠性要求
- ISO 26262道路车辆功能安全要求
- JESD47可靠性验证规范
按产品规格及项目适用标准制定测试计划，可靠性验证包含HTOL、TCT、HAST等测试项目。
行业规范层
- ONFI接口规范
- Toggle Mode接口规范
- NVMe协议规范
- UFS接口规范
- PCIe接口规范
针对不同接口协议的存储产品开展协议一致性与兼容性测试。
企业内控层
- UCUN内部测试规范V3.0
- SPC统计过程控制
- MES全流程质量追溯
- 测试流程与判定标准管理
- 异常处理与设备校准管理
质量管控措施
测试数据与追溯
按器件标识或批次关联测试履历，记录测试时间、设备编号、工位、批次及温度、电压等环境信息，归档测试图形结果、错误地址、性能指标和判定结果，为异常复核和质量追溯提供依据。
- UID追溯码，实现单品全流程追溯
- 全数据记录，支持客户查询接口
- 恒温恒湿/ESD防护/电磁屏蔽环境管理
报告输出
按项目范围输出单颗测试报告、批次统计报告及平台兼容性评估报告，支持对测试过程、异常分布和适配结论的复核。
- 单颗测试报告：测试项目、结果、错误分析与分级结论
- 批次统计报告：良率分析、缺陷分布、性能分布与SPC图表
- 兼容性评估报告：目标平台适配结论与优化建议
- 原始记录：按项目约定提供测试日志与环境曲线
测试环境管理
- 环境温度：23±2℃
- 相对湿度：45%至65%RH
- 全区域ESD防静电管理
- 高频测试区域配置电磁屏蔽措施